尾上研究室 研究業績一覧: T. Uemura, S. Okano, T. Kato, H. Matsuyama, and M. Hashimoto, Soft Error Immune Latch Design for 20 Nm Bulk Cmos, April 2015.
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T. Uemura, S. Okano, T. Kato, H. Matsuyama, and M. Hashimoto, "Soft Error Immune Latch Design for 20 Nm Bulk Cmos," Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), April 2015.
ID 819
分類 国際会議
タグ
表題 (title) Soft Error Immune Latch Design for 20 Nm Bulk Cmos
表題 (英文)
著者名 (author) T. Uemura,S. Okano,T. Kato,H. Matsuyama,M. Hashimoto
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 4
出版年 (year) 2015
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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