尾上研究室 研究業績一覧: S. Hirokawa, R. Harada, M. Hashimoto, and T. Onoye, Characterizing Alpha- and Neutron-Induced Seu and Mcu on Sotb and Bulk 0.4-V Srams, April 2015.
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S. Hirokawa, R. Harada, M. Hashimoto, and T. Onoye, "Characterizing Alpha- and Neutron-Induced Seu and Mcu on Sotb and Bulk 0.4-V Srams," IEEE Transactions on Nuclear Science, April 2015.
ID 800
分類 論文誌
タグ
表題 (title) Characterizing Alpha- and Neutron-Induced Seu and Mcu on Sotb and Bulk 0.4-V Srams
表題 (英文)
著者名 (author) S. Hirokawa,R. Harada,M. Hashimoto,T. Onoye
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) IEEE Transactions on Nuclear Science
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 4
出版年 (year) 2015
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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         title = {Characterizing alpha- and neutron-induced SEU and MCU on SOTB and bulk 0.4-V SRAMs},
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