尾上研究室 研究業績一覧: M. Hashimoto, Toward Robust Subthreshold Circuit Design: Variability and Soft Error Perspective (Invited), October 2014.
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M. Hashimoto, "Toward Robust Subthreshold Circuit Design: Variability and Soft Error Perspective (Invited)," Proceedings of SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), October 2014.
ID 767
分類 国際会議
タグ
表題 (title) Toward Robust Subthreshold Circuit Design: Variability and Soft Error Perspective (Invited)
表題 (英文)
著者名 (author) M. Hashimoto
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) Proceedings of SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 10
出版年 (year) 2014
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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