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| Y. Konno, K. Nakamura, T. Bitoh, K. Saga, and S. Yano, "A Consistent Scan Design System for Large-Scale ASICs," In in Proc. Fifth Asian Test Symposium, pp. 82-87, November 1996. | |
| ID | 76 |
| 分類 | 国際会議 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
A Consistent Scan Design System for Large-Scale ASICs |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
Y. Konno, K. Nakamura, T. Bitoh, K. Saga, S. Yano |
| 英文著者名 (author) |
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| 編者名 (editor) |
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| 編者名 (英文) |
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| キー (key) |
, , , , Seiken Yano |
| 書籍・会議録表題 (booktitle) |
in Proc. Fifth Asian Test Symposium |
| 書籍・会議録表題(英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
82-87 |
| 組織名 (organization) |
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| 出版元 (publisher) |
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| 出版元 (英文) |
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| 出版社住所 (address) |
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| 刊行月 (month) |
11 |
| 出版年 (year) |
1996 |
| 採択率 (acceptance) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@inproceedings{id76,
title = {A Consistent Scan Design System for Large-Scale {ASICs}},
author = {Y. Konno and K. Nakamura and T. Bitoh and K. Saga and S. Yano},
booktitle = {in Proc. Fifth Asian Test Symposium},
pages = {82-87},
month = {11},
year = {1996},
}
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