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| 尾上孝雄, 橋本昌宜, 密山幸男, D. Alnajjar, 郡浦宏明, "VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ (Invited)," 信学技報リコンフィギャラブルシステム研究会, 2013年11月. | |
| ID | 740 |
| 分類 | 研究会等発表論文 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ (Invited) |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
尾上孝雄,橋本昌宜,密山幸男,Dawood Alnajjar,郡浦宏明 |
| 英文著者名 (author) |
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| キー (key) |
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| 定期刊行物名 (journal) |
信学技報リコンフィギャラブルシステム研究会 |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
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| 刊行月 (month) |
11 |
| 出版年 (year) |
2013 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id740,
title = {VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ (Invited)},
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