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尾上孝雄, 橋本昌宜, 密山幸男, D. Alnajjar, 郡浦宏明, "VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ (Invited)," 信学技報リコンフィギャラブルシステム研究会, 2013年11月. | |
ID | 740 |
分類 | 研究会等発表論文 |
タグ | |
表題 (title) |
VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ (Invited) |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
尾上孝雄,橋本昌宜,密山幸男,Dawood Alnajjar,郡浦宏明 |
英文著者名 (author) |
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キー (key) |
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定期刊行物名 (journal) |
信学技報リコンフィギャラブルシステム研究会 |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
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刊行月 (month) |
11 |
出版年 (year) |
2013 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
@article{id740, title = {VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ (Invited)}, author = {尾上孝雄 and 橋本昌宜 and 密山幸男 and Dawood Alnajjar and 郡浦宏明}, journal = {信学技報リコンフィギャラブルシステム研究会}, month = {11}, year = {2013}, } |