尾上研究室 研究業績一覧: 尾上孝雄, 橋本昌宜, 密山幸男, D. Alnajjar, 郡浦宏明, VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ (Invited), 2013年11月.
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尾上孝雄, 橋本昌宜, 密山幸男, D. Alnajjar, 郡浦宏明, "VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ (Invited)," 信学技報リコンフィギャラブルシステム研究会, 2013年11月.
ID 740
分類 研究会等発表論文
タグ
表題 (title) VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ (Invited)
表題 (英文)
著者名 (author) 尾上孝雄,橋本昌宜,密山幸男,Dawood Alnajjar,郡浦宏明
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) 信学技報リコンフィギャラブルシステム研究会
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 11
出版年 (year) 2013
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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