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| Y. Higuchi, K. Shinkai, M. Hashimoto, R. Rao, and S. Nassif, "Extracting Device-Parameter Variations Using a Single Sensitivity-Configurable Ring Oscillator," Proceedings of IEEE European Test Symposium (ETS), pp. 106--111, May 2013. | |
| ID | 735 |
| 分類 | 国際会議 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
Extracting Device-Parameter Variations Using a Single Sensitivity-Configurable Ring Oscillator |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
Y. Higuchi,K. Shinkai,M. Hashimoto,R. Rao,S. Nassif |
| 英文著者名 (author) |
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| キー (key) |
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| 定期刊行物名 (journal) |
Proceedings of IEEE European Test Symposium (ETS) |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
106--111 |
| 刊行月 (month) |
5 |
| 出版年 (year) |
2013 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id735,
title = {Extracting Device-Parameter Variations using a Single Sensitivity-Configurable Ring Oscillator},
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pages = {106--111},
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year = {2013},
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