尾上研究室 研究業績一覧: Y. Higuchi, K. Shinkai, M. Hashimoto, R. Rao, and S. Nassif, Extracting Device-Parameter Variations Using a Single Sensitivity-Configurable Ring Oscillator, May 2013.
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Y. Higuchi, K. Shinkai, M. Hashimoto, R. Rao, and S. Nassif, "Extracting Device-Parameter Variations Using a Single Sensitivity-Configurable Ring Oscillator," Proceedings of IEEE European Test Symposium (ETS), pp. 106--111, May 2013.
ID 735
分類 国際会議
タグ
表題 (title) Extracting Device-Parameter Variations Using a Single Sensitivity-Configurable Ring Oscillator
表題 (英文)
著者名 (author) Y. Higuchi,K. Shinkai,M. Hashimoto,R. Rao,S. Nassif
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) Proceedings of IEEE European Test Symposium (ETS)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 106--111
刊行月 (month) 5
出版年 (year) 2013
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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