尾上研究室 研究業績一覧: T. Uemura, T. Kato, H. Matsuyama, and M. Hashimoto, Mitigating Multi-Cell-Upset with Well-Slits in 28nm Multi-Bit-Latch, July 2013.
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T. Uemura, T. Kato, H. Matsuyama, and M. Hashimoto, "Mitigating Multi-Cell-Upset with Well-Slits in 28nm Multi-Bit-Latch," IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), July 2013.
ID 732
分類 国際会議
タグ
表題 (title) Mitigating Multi-Cell-Upset with Well-Slits in 28nm Multi-Bit-Latch
表題 (英文)
著者名 (author) T. Uemura,T. Kato,H. Matsuyama,M. Hashimoto
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 7
出版年 (year) 2013
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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