尾上研究室 研究業績一覧: 郡浦宏明, 今川隆司, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, 動的部分再構成による故障回避に関する一考察, 2012年11月.
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郡浦宏明, 今川隆司, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "動的部分再構成による故障回避に関する一考察," 信学技報, RECONF2012-59 , 112(325), pp. 71-76, 2012年11月.
ID 639
分類 研究会等発表論文
タグ
表題 (title) 動的部分再構成による故障回避に関する一考察
表題 (英文) An Observational Study on Fault-Avoidance Methods Using Dynamic Partial Reconfiguration
著者名 (author) 郡浦 宏明,今川 隆司,密山 幸男,橋本 昌宜,尾上 孝雄
英文著者名 (author) Hiroaki Konoura, Takashi Imagawa, Yukio Mitsuyama, Masanori Hashimoto, Takao Onoye
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key)
書籍・会議録表題 (booktitle) 信学技報, RECONF2012-59
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume) 112
号数 (number) 325
ページ範囲 (pages) 71-76
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 11
出版年 (year) 2012
採択率 (acceptance)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote) in Japanese
内容梗概 (abstract) 再構成可能デバイスの劣化故障に起因する恒久的エラーを回避する手法として,動的再構成機能を利用した部分配置配線による故障回避手法が提案されている.この故障回避手法により達成される寿命延長効果は,初期のアプリケーションマッピングや未使用構成要素の配置・数,部分配置配線アルゴリズムに依存する.本稿では,再構成可能デバイスの配置配線に広く用いられている VPR を基に故障回避シミュレーションを実行し,初期マッピングと寿命延長効果の関係を調査した.評価結果より,アプリケーションの規模が大きくなるにつれて任意の目標寿命を得るために必要な故障回避可能回数が増加することを示した.また,部分再構成の成功率を高めるため配線使用率を 35% 以下に抑える設計ガイドラインを示した.
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BiBTeXエントリ
@inproceedings{id639,
         title = {動的部分再構成による故障回避に関する一考察},
        author = {郡浦 宏明 and 今川 隆司 and 密山 幸男 and 橋本 昌宜 and 尾上 孝雄},
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          year = {2012},
        annote = {in Japanese},
}
  

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