尾上研究室 研究業績一覧: H. Fuketa, M. Hashimoto, Y. Mitsuyama, and T. Onoye, Alpha-Particle-Induced Soft Errors and Multiple Cell Upsets in 65-Nm 10t Subthreshold Sram, May 2010.
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H. Fuketa, M. Hashimoto, Y. Mitsuyama, and T. Onoye, "Alpha-Particle-Induced Soft Errors and Multiple Cell Upsets in 65-Nm 10t Subthreshold Sram," In Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), pp. 213--217, May 2010.
ID 594
分類 国際会議
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表題 (title) Alpha-Particle-Induced Soft Errors and Multiple Cell Upsets in 65-Nm 10t Subthreshold Sram
表題 (英文)
著者名 (author) H. Fuketa,M. Hashimoto,Y. Mitsuyama,T. Onoye
英文著者名 (author)
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key)
書籍・会議録表題 (booktitle) Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS)
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 213--217
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 5
出版年 (year) 2010
採択率 (acceptance)
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内容梗概 (abstract)
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@inproceedings{id594,
         title = {Alpha-Particle-Induced Soft Errors and Multiple Cell Upsets in 65-nm 10T Subthreshold SRAM},
        author = {H. Fuketa and M. Hashimoto and Y. Mitsuyama and T. Onoye},
     booktitle = {Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS)},
         pages = {213--217},
         month = {5},
          year = {2010},
}
  

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