尾上研究室 研究業績一覧: S. Kimura, M. Hashimoto, and T. Onoye, Body Bias Clustering for Low Test-Cost Post-Silicon Tuning, February 2012.
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S. Kimura, M. Hashimoto, and T. Onoye, "Body Bias Clustering for Low Test-Cost Post-Silicon Tuning," In Proceedings of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), pp. 283--289, February 2012.
ID 584
分類 国際会議
タグ
表題 (title) Body Bias Clustering for Low Test-Cost Post-Silicon Tuning
表題 (英文)
著者名 (author) S. Kimura,M. Hashimoto,T. Onoye
英文著者名 (author)
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key)
書籍・会議録表題 (booktitle) Proceedings of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 283--289
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 2
出版年 (year) 2012
採択率 (acceptance)
URL
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内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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