尾上研究室 研究業績一覧: K. Shinkai, M. Hashimoto, and T. Onoye, Extracting Device-Parameter Variations with Ro-Based Sensors, December 2011.
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K. Shinkai, M. Hashimoto, and T. Onoye, "Extracting Device-Parameter Variations with Ro-Based Sensors," IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E94-A(12), pp. 2537--2544, December 2011.
ID 551
分類 論文誌
タグ
表題 (title) Extracting Device-Parameter Variations with Ro-Based Sensors
表題 (英文)
著者名 (author) K. Shinkai,M. Hashimoto,T. Onoye
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume) E94-A
号数 (number) 12
ページ範囲 (pages) 2537--2544
刊行月 (month) 12
出版年 (year) 2011
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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