尾上研究室 研究業績一覧: 亀田敏広, 郡浦宏明, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, スキャンパスを用いたNBTI劣化抑制に関する研究, 2011年8月.
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亀田敏広, 郡浦宏明, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "スキャンパスを用いたNBTI劣化抑制に関する研究," 情報処理学会DAシンポジウム, pp. 201-206, 2011年8月.
ID 529
分類 研究会等発表論文
タグ
表題 (title) スキャンパスを用いたNBTI劣化抑制に関する研究
表題 (英文)
著者名 (author) 亀田 敏広,郡浦 宏明,密山 幸男,橋本 昌宜,尾上 孝雄
英文著者名 (author) T. Kameda, H. Konoura,Y. Mitsuyama, M. Hashimoto, T. Onoye
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key)
書籍・会議録表題 (booktitle) 情報処理学会DAシンポジウム
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 201-206
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 8
出版年 (year) 2011
採択率 (acceptance)
URL
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内容梗概 (abstract)
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