尾上研究室 研究業績一覧: 更田裕司, 橋本昌宜, 密山幸男, 尾上孝雄, サブスレッショルド回路における基板バイアスを考慮したトランジスタのばらつきモデリングとリングオシレータを用いた検証, 2009年3月.
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更田裕司, 橋本昌宜, 密山幸男, 尾上孝雄, "サブスレッショルド回路における基板バイアスを考慮したトランジスタのばらつきモデリングとリングオシレータを用いた検証," 信学技報, VLD2008-159, 108(478), pp. 201-206, 2009年3月.
ID 476
分類 研究会等発表論文
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表題 (title) サブスレッショルド回路における基板バイアスを考慮したトランジスタのばらつきモデリングとリングオシレータを用いた検証
表題 (英文) Correlation Verification between Transistor Variability Model with Body Biasing and Ring Oscillation Frequency in Subthreshold Circuits
著者名 (author) 更田 裕司,橋本 昌宜,密山 幸男,尾上 孝雄
英文著者名 (author) H. Fuketa, M. Hashimoto, Y. Mitsuyama, T. Onoye
キー (key) Hiroshi Fuketa, Masanori Hashimoto, Yukio Mitsuyama, Takao Onoye
定期刊行物名 (journal) 信学技報, VLD2008-159
定期刊行物名 (英文) IEICE Technical Report, VLD2008-159
巻数 (volume) 108
号数 (number) 478
ページ範囲 (pages) 201-206
刊行月 (month) 3
出版年 (year) 2009
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