尾上研究室 研究業績一覧: Y. Ogasahara, M. Hashimoto, and T. Onoye, Measurement and Analysis of Inductive Coupling Noise in 90nm Global Interconnects, March 2008.
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Y. Ogasahara, M. Hashimoto, and T. Onoye, "Measurement and Analysis of Inductive Coupling Noise in 90nm Global Interconnects," IEEE Journal of Solid-State Circuits, 43(3), pp. 718-728, March 2008.
ID 445
分類 論文誌
タグ
表題 (title) Measurement and Analysis of Inductive Coupling Noise in 90nm Global Interconnects
表題 (英文)
著者名 (author) Y. Ogasahara,M. Hashimoto,T. Onoye
英文著者名 (author)
キー (key) Yasuhiro Ogasahara, Masanori Hashimoto, Takao Onoye
定期刊行物名 (journal) IEEE Journal of Solid-State Circuits
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume) 43
号数 (number) 3
ページ範囲 (pages) 718-728
刊行月 (month) 3
出版年 (year) 2008
Impact Factor (JCR)
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