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小笠原泰弘, 榎並孝司, 橋本昌宜, 佐藤高史, 尾上孝雄, "電源ノイズによる遅延変動の測定と電源ノイズを再現するフルチップシミュレーション手法," 信学技報, CPM2006-132, ICD2006-174, pp. 19--23, 2007年1月. | |
ID | 410 |
分類 | 研究会等発表論文 |
タグ | |
表題 (title) |
電源ノイズによる遅延変動の測定と電源ノイズを再現するフルチップシミュレーション手法 |
表題 (英文) |
Measurement of Delay Degradation Due to Power Supply Noise and Delay Variation Estimation with Full-Chip Simulation |
著者名 (author) |
小笠原 泰弘, 榎並 孝司, 橋本 昌宜, 佐藤 高史, 尾上 孝雄 |
英文著者名 (author) |
Y. Ogasahara, T. Enami, M. Hashimoto, T. Sato, T. Onoye |
編者名 (editor) |
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編者名 (英文) |
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キー (key) |
Yasuhiro Ogasahara, Takashi Enami, Masanori Hashimoto, , Takao Onoye |
書籍・会議録表題 (booktitle) |
信学技報, CPM2006-132, ICD2006-174 |
書籍・会議録表題(英文) |
IEICE Technical Report, CPM2006-132, ICD2006-174 |
巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
19--23 |
組織名 (organization) |
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出版元 (publisher) |
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出版元 (英文) |
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出版社住所 (address) |
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刊行月 (month) |
1 |
出版年 (year) |
2007 |
採択率 (acceptance) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
in Japanese |
内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
@inproceedings{id410, title = {電源ノイズによる遅延変動の測定と電源ノイズを再現するフルチップシミュレーション手法}, author = {小笠原 泰弘 and 榎並 孝司 and 橋本 昌宜 and 佐藤 高史 and 尾上 孝雄}, booktitle = {信学技報, CPM2006-132, ICD2006-174}, pages = {19--23}, month = {1}, year = {2007}, annote = {in Japanese}, } |