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矢野政顕, 石浦菜岐佐, "スキャンパス構成を利用した内蔵メモリの試験," 電子情報通信学会第10回回路とシステム軽井沢ワークショップ, pp. 95-100, 1997年4月. | |
ID | 222 |
分類 | 研究会等発表論文 |
タグ | |
表題 (title) |
スキャンパス構成を利用した内蔵メモリの試験 |
表題 (英文) |
Testing Embedded Memory Array Through a Scannable Configuration |
著者名 (author) |
矢野政顕, 石浦菜岐佐 |
英文著者名 (author) |
S. Yano, N. Ishiura |
編者名 (editor) |
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編者名 (英文) |
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キー (key) |
Seiken Yano, Nagisa Ishiura |
書籍・会議録表題 (booktitle) |
電子情報通信学会第10回回路とシステム軽井沢ワークショップ |
書籍・会議録表題(英文) |
IEICE The 10th Karuizawa Workshop on Circuits and Systems |
巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
95-100 |
組織名 (organization) |
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出版元 (publisher) |
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出版元 (英文) |
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出版社住所 (address) |
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刊行月 (month) |
4 |
出版年 (year) |
1997 |
採択率 (acceptance) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
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