研究会等発表論文

[1] 郡浦宏明, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "動的部分再構成による故障回避に適した初期配置配線の検討," 情報処理学会SLDM研究会, 2014年3月.

[2] 尾上孝雄, 橋本昌宜, 密山幸男, Dawood Alnajjar, 郡浦宏明, "VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ (Invited)," 信学技報リコンフィギャラブルシステム研究会, 2013年11月.

[3] 郡浦宏明, 今川隆司, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "動作合成に対応した信頼性可変混合粒度再構成可能アーキテクチャの検討," 信学技報, RECONF2013-8, volume 113, number 52, pages 41-46, 2013年5月.

[4] 郡浦宏明, Dawood Alnajjar, 密山幸男, 越智裕之, 今川隆司, 野田真一, 若林一敏, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "C ベース設計に対応した信頼性可変粒度複合型再構成可能アーキテクチャ," LSIとシステムのワークショップ, 2013年5月.

[5] 郡浦宏明, 今川隆司, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "動的部分再構成による故障回避に関する一考察," 信学技報, RECONF2012-59 , volume 112, number 325, pages 71-76, 2012年11月.

[6] 亀田敏広, 郡浦宏明, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "スキャンパスを用いたＮＢＴＩ劣化抑制に関する研究," 情報処理学会DAシンポジウム, pages 201-206, 2011年8月.

[7] 郡浦宏明, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "動的再構成可能アーキテクチャによる故障回避機構の定量的評価," 信学技報, RECONF2011-6, volume 111, number 31, pages 31-36, 2011年5月.

[8] 郡浦宏明, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "NBTI による劣化予測におけるトランジスタ動作確率算出法の評価," 情報処理学会DAシンポジウム, pages 181-186, 2009年8月.