| 著者名 (author) | 表題 (title) | 論文誌/会議名 | 巻数 (volume) | 号数 (number) | ページ範囲 (pages) | 刊行月 (month) | 出版年 (year) | IF / Acc. rate | File | |
| 国内会議(査読付き) |
佐方剛, 成木保文, 奥村隆昌, 金本俊幾, 増田弘生, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝 |
CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析 |
情報処理学会DAシンポジウム | September |
2011 | |||||
| 国内会議(査読付き) |
増田弘生, 佐方剛, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, 金本俊幾 |
RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討 |
情報処理学会DAシンポジウム | 209--214 |
September |
2010 |
|
This site is maintained by webadmin. PMAN 2.5.6 - Paper MANagement system / (C) 2002-2008, Osamu Mizuno / All rights reserved. |