- 国内会議(査読付き)
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佐方剛, 成木保文, 奥村隆昌, 金本俊幾, 増田弘生, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, ``CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析,'' 情報処理学会DAシンポジウム, September 2011.
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増田弘生, 佐方剛, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, 金本俊幾, ``RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討,'' 情報処理学会DAシンポジウム, pp. 209--214, September 2010.
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佐方 剛, 黒川 敦, 奥村 隆昌, 中島 英斉, 増田 弘生, 佐藤 高史, 橋本 昌宜, 蜂屋 孝太郎, 古川 且洋, 田中 正和, 高藤 浩資, 金本 俊幾, ``製造ばらつきに起因するリーク電流変動の低減アプローチ,'' 第22回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pp. 444--449, April 2009.
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