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分類	国内会議(査読付き)
著者名 (author)	大津　誠,高橋真吾,築山修治,橋本昌宜,白川功
英文著者名 (author)
キー (key)
表題 (title)	nMOSレベルシフタ回路の性能比較手法について
表題 (英文)
定期刊行物名 (journal)	情報処理学会システムLSI設計技術研究会
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)	2008-SLDM-134
ページ範囲 (pages)	121--126
刊行月 (month)	March
出版年 (year)	2008
Impact Factor (JCR)
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル	Not available.

[2-100] 大津　誠, 高橋真吾, 築山修治, 橋本昌宜, 白川功, ``nMOSレベルシフタ回路の性能比較手法について,'' 情報処理学会システムLSI設計技術研究会, no. 2008-SLDM-134, pp. 121--126, March 2008.

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