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分類	国内会議(査読付き)
著者名 (author)	佐方剛,成木保文,奥村隆昌,金本俊幾,増田弘生,佐藤高史,橋本昌宜,古川且洋,田中正和,山中俊輝
英文著者名 (author)
キー (key)
表題 (title)	CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析
表題 (英文)
定期刊行物名 (journal)	情報処理学会DAシンポジウム
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month)	September
出版年 (year)	2011
Impact Factor (JCR)
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル	Not available.

[2-130] 佐方剛, 成木保文, 奥村隆昌, 金本俊幾, 増田弘生, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, ``CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析,'' 情報処理学会DAシンポジウム, September 2011.

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