研究会等発表論文
[1]  郡浦宏明, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, ``動的部分再構成による故障回避に適した初期配置配線の検討,'' 情報処理学会SLDM研究会, March 2014.
[2]  尾上孝雄, 橋本昌宜, 密山幸男, Dawood Alnajjar, 郡浦宏明, ``VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ (Invited),'' 信学技報リコンフィギャラブルシステム研究会, November 2013.
[3]  郡浦 宏明, 今川 隆司, 密山 幸男, 橋本 昌宜, 尾上 孝雄, ``動作合成に対応した信頼性可変混合粒度再構成可能アーキテクチャの検討,'' 信学技報, RECONF2013-8, vol. 113, no. 52, pp. 41-46, May 2013.
[4]  郡浦 宏明, Dawood Alnajjar, 密山 幸男, 越智 裕之, 今川 隆司, 野田 真一, 若林 一敏, 橋本 昌宜, 尾上 孝雄, ``C ベース設計に対応した信頼性可変粒度複合型再構成可能アーキテクチャ,'' LSIとシステムのワークショップ, May 2013.
[5]  郡浦 宏明, 今川 隆司, 密山 幸男, 橋本 昌宜, 尾上 孝雄, ``動的部分再構成による故障回避に関する一考察,'' 信学技報, RECONF2012-59 , vol. 112, no. 325, pp. 71-76, November 2012.
[6]  亀田 敏広, 郡浦 宏明, 密山 幸男, 橋本 昌宜, 尾上 孝雄, ``スキャンパスを用いたNBTI劣化抑制に関する研究,'' 情報処理学会DAシンポジウム, pp. 201-206, August 2011.
[7]  郡浦 宏明, 密山 幸男, 橋本 昌宜, 尾上 孝雄, ``動的再構成可能アーキテクチャによる故障回避機構の定量的評価,'' 信学技報, RECONF2011-6, vol. 111, no. 31, pp. 31-36, May 2011.
[8]  郡浦 宏明, 密山 幸男, 橋本 昌宜, 尾上 孝雄, ``NBTI による劣化予測におけるトランジスタ動作確率算出法の評価,'' 情報処理学会DAシンポジウム, pp. 181-186, August 2009.

This site is maintained by Onoye Lab.

PMAN 2.5.5 - Paper MANagement system / (C) 2002-2008, Osamu Mizuno / All rights reserved.