分類 研究会等発表論文
著者名 (author) 更田 裕司,橋本 昌宜,密山 幸男,尾上 孝雄
英文著者名 (author) H. Fuketa, M. Hashimoto, Y. Mitsuyama, T. Onoye
キー (key) Hiroshi Fuketa, Masanori Hashimoto, Yukio Mitsuyama, Takao Onoye
表題 (title) サブスレッショルド回路における基板バイアスを考慮したトランジスタのばらつきモデリングとリングオシレータを用いた検証
表題 (英文) Correlation Verification between Transistor Variability Model with Body Biasing and Ring Oscillation Frequency in Subthreshold Circuits
定期刊行物名 (journal) 信学技報, VLD2008-159
定期刊行物名 (英文) IEICE Technical Report, VLD2008-159
巻数 (volume) 108
号数 (number) 478
ページ範囲 (pages) 201-206
刊行月 (month) March
出版年 (year) 2009
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル Not available.


[3-279]  更田 裕司, 橋本 昌宜, 密山 幸男, 尾上 孝雄, ``サブスレッショルド回路における基板バイアスを考慮したトランジスタのばらつきモデリングとリングオシレータを用いた検証,'' 信学技報, VLD2008-159, vol. 108, no. 478, pp. 201-206, March 2009.

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