分類 研究会等発表論文
著者名 (author) 小笠原 泰弘, 榎並 孝司, 橋本 昌宜, 佐藤 高史, 尾上 孝雄
英文著者名 (author) Y. Ogasahara, T. Enami, M. Hashimoto, T. Sato, T. Onoye
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Yasuhiro Ogasahara, Takashi Enami, Masanori Hashimoto, , Takao Onoye
表題 (title) 電源ノイズによる遅延変動の測定と電源ノイズを再現するフルチップシミュレーション手法
表題 (英文) Measurement of Delay Degradation Due to Power Supply Noise and Delay Variation Estimation with Full-Chip Simulation
書籍・会議録表題 (booktitle) 信学技報, CPM2006-132, ICD2006-174
書籍・会議録表題(英文) IEICE Technical Report, CPM2006-132, ICD2006-174
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 19--23
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) January
出版年 (year) 2007
付加情報 (note)
注釈 (annote) in Japanese
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル Not available.


[3-253]  小笠原 泰弘, 榎並 孝司, 橋本 昌宜, 佐藤 高史, 尾上 孝雄, ``電源ノイズによる遅延変動の測定と電源ノイズを再現するフルチップシミュレーション手法,'' 信学技報, CPM2006-132, ICD2006-174, pp. 19--23, January 2007.

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