分類 研究会等発表論文
著者名 (author) 内田 好弘, 谷 貞宏, 橋本 昌宜, 築山 修治, 白川 功
英文著者名 (author) Y. Uchida, S. Tani, M. Hashimoto, S. Tsukiyama, I. Shirakawa
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Yoshihiro Uchida, Sadahiro Tani, Masanori Hashimoto, Shuji Tukiyama, Isao Shirakawa
表題 (title) システム液晶のための配線間容量抽出手法
表題 (英文) Interconnect Capacitance Extraction for System {LCD} Circuits
書籍・会議録表題 (booktitle) 信学技報, VLD2004-64
書籍・会議録表題(英文) Proc. Technical Report of IEICE, VLD2004-64
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 19--24
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) December
出版年 (year) 2004
付加情報 (note)
注釈 (annote) in Japanese
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル Not available.


[3-229]  内田 好弘, 谷 貞宏, 橋本 昌宜, 築山 修治, 白川 功, ``システム液晶のための配線間容量抽出手法,'' 信学技報, VLD2004-64, pp. 19--24, December 2004.

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