分類 研究会等発表論文
著者名 (author) 矢野政顕, 石浦菜岐佐
英文著者名 (author) S. Yano, N. Ishiura
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Seiken Yano, Nagisa Ishiura
表題 (title) スキャンパス構成を利用した内蔵メモリの試験
表題 (英文) Testing Embedded Memory Array through a Scannable Configuration
書籍・会議録表題 (booktitle) 電子情報通信学会第10回回路とシステム軽井沢ワークショップ
書籍・会議録表題(英文) IEICE The 10th Karuizawa Workshop on Circuits and Systems
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 95-100
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) April
出版年 (year) 1997
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル Not available.


[3-164]  矢野政顕, 石浦菜岐佐, ``スキャンパス構成を利用した内蔵メモリの試験,'' 電子情報通信学会第10回回路とシステム軽井沢ワークショップ, pp. 95-100, April 1997.

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