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分類 研究会等発表論文
著者名 (author) S. Yano, K. Akagi, N. Ishiura
英文著者名 (author)
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Seiken Yano, ,
表題 (title) A New Scan Path Approach to Memory Array Testing
表題 (英文)
書籍・会議録表題 (booktitle) 電子情報通信学会第9回回路とシステム軽 井沢ワークショップ
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 55-60
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) April
出版年 (year) 1996
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル Not available.


[3-155]  S. Yano, K. Akagi, and N. Ishiura, ``A New Scan Path Approach to Memory Array Testing,'' In 電子情報通信学会第9回回路とシステム軽 井沢ワークショップ, pp. 55-60, April 1996.

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