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Y. Konno, K. Nakamura, T. Bitoh, K. Saga, and S. Yano, "A Consistent Scan Design System for Large-Scale ASICs," In in Proc. Fifth Asian Test Symposium, pp. 82-87, November 1996. | |
ID | 76 |
分類 | 国際会議 |
タグ | |
表題 (title) |
A Consistent Scan Design System for Large-Scale ASICs |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
Y. Konno, K. Nakamura, T. Bitoh, K. Saga, S. Yano |
英文著者名 (author) |
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編者名 (editor) |
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編者名 (英文) |
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キー (key) |
, , , , Seiken Yano |
書籍・会議録表題 (booktitle) |
in Proc. Fifth Asian Test Symposium |
書籍・会議録表題(英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
82-87 |
組織名 (organization) |
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出版元 (publisher) |
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出版元 (英文) |
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出版社住所 (address) |
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刊行月 (month) |
11 |
出版年 (year) |
1996 |
採択率 (acceptance) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
@inproceedings{id76, title = {A Consistent Scan Design System for Large-Scale {ASICs}}, author = {Y. Konno and K. Nakamura and T. Bitoh and K. Saga and S. Yano}, booktitle = {in Proc. Fifth Asian Test Symposium}, pages = {82-87}, month = {11}, year = {1996}, } |