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| 原田諒, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "放射線起因一過性パルスが信頼性に与える影響の実験的評価," LSI とシステムのワークショップ, 2013年5月. | |
| ID | 744 |
| 分類 | 研究会等発表論文 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
放射線起因一過性パルスが信頼性に与える影響の実験的評価 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
原田 諒,密山 幸男,橋本 昌宜,尾上 孝雄 |
| 英文著者名 (author) |
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| キー (key) |
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| 定期刊行物名 (journal) |
LSI とシステムのワークショップ |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
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| 刊行月 (month) |
5 |
| 出版年 (year) |
2013 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id744,
title = {放射線起因一過性パルスが信頼性に与える影響の実験的評価},
author = {原田 諒 and 密山 幸男 and 橋本 昌宜 and 尾上 孝雄},
journal = {LSI とシステムのワークショップ},
month = {5},
year = {2013},
}
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