尾上研究室 研究業績一覧: 原田諒, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, 放射線起因一過性パルスが信頼性に与える影響の実験的評価, 2013年5月.
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原田諒, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "放射線起因一過性パルスが信頼性に与える影響の実験的評価," LSI とシステムのワークショップ, 2013年5月.
ID 744
分類 研究会等発表論文
タグ
表題 (title) 放射線起因一過性パルスが信頼性に与える影響の実験的評価
表題 (英文)
著者名 (author) 原田 諒,密山 幸男,橋本 昌宜,尾上 孝雄
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) LSI とシステムのワークショップ
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 5
出版年 (year) 2013
Impact Factor (JCR)
URL
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注釈 (annote)
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